SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

• 更新時(shí)間：2017-06-16
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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀
型號：SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm

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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

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DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

型號：SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍：199μm行業分類，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型：USB

篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO技術特點，具有內(nèi)部進(jìn)料單元的移動(dòng)粗糙度測量裝置提高鍛煉，小巧便攜，通用功能凝聚力量，用戶友好的界面有所提升，適合地板等表面粗糙度測量。

應(yīng)用：
用戶友好的移動(dòng)粗糙度測量裝置新的力量，用于參數(shù)Ra先進水平，Rz，Rp全面展示，Rv重要平臺，Rt，Rz1max核心技術，R3z（戴姆勒DB N 31007）應用提升，Rsk，Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測量創造性。

執(zhí)行：
3.7“彩色液晶顯示屏發展的關鍵，zui多顯示4個(gè)測量值
拆分顯示和進(jìn)紙單元
兩臺機(jī)器之間的藍(lán)牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數(shù)符合DIN ISO和ASME標(biāo)準(zhǔn)
顯示主要輪廓/參數(shù)Pa，Pz規模設備，Pp真諦所在，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電
 

優(yōu)點(diǎn)：
InstantOn競爭力，從待機(jī)模式到測量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀充分，無需培訓(xùn)
測量值保存到下次測量為止
電池壽命每次充電可達(dá)3000次測量