尼克斯qnix 4200單功能磁性測厚儀

• 更新時間：2018-05-22
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尼克斯qnix 4200單功能磁性測厚儀
尼克斯qnix 4200不同于雙功能型QNIX 4500涂層測厚儀凝聚力量，qnix 4200只有單磁性探頭可能性更大。測量范圍磁性基體（Fe模式）:0-3000μm趨勢，具有QNIX 4500型的所有優(yōu)點緊迫性。如無需校準(zhǔn)品率、溫度補償使命責任、紅寶石探頭效果，*的直流技術(shù)等。

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尼克斯qnix 4200單功能磁性測厚儀

尼克斯qnix 4200不同于雙功能型QNIX 4500涂層測厚儀強化意識，qnix 4200只有單磁性探頭長期間。測量范圍磁性基體（Fe模式）:0-3000μm，具有QNIX 4500型的所有優(yōu)點現場。如無需校準(zhǔn)高端化、溫度補償、紅寶石探頭我有所應，*的直流技術(shù)等提單產。

QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼至關重要、鐵等磁性基體上的涂層發展空間，鍍層　
·只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
·體積小巧有所應，操作方便

主要技術(shù)參數(shù)：
·測量范圍：磁性基體（Fe模式）:0-3000μm
·zui小基體厚度：Fe:0.2mm
·精度：0-50um:≤±1μm足了準備，50-1000μm:≤±1.5%讀數(shù)，1000-3000μm≤±3%讀數(shù)
·zui小接觸面：10×10mm
·zui小曲率半徑：凸面：3mm著力提升，凹面：25mm
·電源：2節(jié)1.5V干電池
·外形尺寸：100×60×27mm深刻內涵，重量：110g 

QNix4200德國尼克斯涂鍍層測厚儀無需校準(zhǔn)：
多數(shù)測厚儀除了校零外傳遞，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測量某一范圍厚度深入闡釋，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校相關性。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣物聯與互聯，而且也會因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效穩定，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大振奮起來。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差品質。所以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補償技術(shù)，以保證不同溫度下的測量精度深入各系統。
紅寶石探頭：
探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度最為顯著。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差規定。
*的直流采樣技術(shù)：
使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高環境。