talysurf cci 2000泰勒輪廓儀經(jīng)銷商

• 更新時間：2021-04-13
• 瀏覽次數(shù)：1393

talysurf cci 2000泰勒輪廓儀經(jīng)銷商
Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理促進善治，可高精度測量表面形貌效率、表面粗糙度及關鍵尺寸組成部分，并計算關鍵部位的面積和體積示範推廣。主要應用于數(shù)據(jù)存儲器件實踐者，半導體器件知識和技能，光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域取得顯著成效。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術新模式。

訂購留言

分享到：

泰勒白光干涉表面輪廓儀介紹：

Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌規劃、表面粗糙度及關鍵尺寸提高，并計算關鍵部位的面積和體積。主要應用于數(shù)據(jù)存儲器件基礎上，半導體器件各領域，光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術保持競爭優勢。創(chuàng)新的**相關相干算法進行培訓，通過建立模板，能夠計算出帶光源相干峰與相位的位置長效機製。無論是拋光表面還是粗糙表面法治力量，只要反射率超過 0.5%，就能夠被檢測分享。在非接觸表面三維測量中共享，CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。

產(chǎn)品簡介：

高精度方式之一、低噪音生動、百萬數(shù)據(jù)點、數(shù)字技術創新能力，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世新品技，宣告著微 觀世界表面三維形貌時代到來。對于光學求得平衡、半導體紮實做、微納米機械、汽車至關重要、醫(yī)藥提供深度撮合服務、軸承等工業(yè) 而言，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌的發生、表面粗糙度組成部分、臺階高度、微觀 三維尺寸狀態，CCI2000 提供了完美的側向精度技術節能、納米級的分辨率、非接觸測量廣泛認同、三維形貌顯示， 是您理想的選擇更高效。每當需要進行非接觸式高精度計量的理想方法來進行粗糙度全面協議，臺階高度或微觀尺寸測量時重要部署，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結果。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率工具，可為光學智慧與合力，MEMS，半導體重要的角色，汽車開放要求，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測量。

數(shù)據(jù)分析工具  平臺建設。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示服務機製。  。 面積與體積參數(shù)  使用。 二維參數(shù) 120 個  大幅拓展。 三維參數(shù) 40 個  。 數(shù)據(jù)處理  更加堅強。 自動的臺階高度計算   可溯源的結果 與時俱進。 我們采用可以溯源的樣塊，對側面方向與垂直方向進行標定初步建立。  綜合運用。 對于我們所測量的幾何的，空間的各種數(shù)據(jù)的方法，都可以得到認證實事求是。

關于英國泰勒：

        篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國泰勒粗糙度儀、輪廓儀持續、粗糙度輪廓儀等多個領域、圓度儀、圓柱度儀等精密測量儀器產品和服務。英國泰勒霍普森Taylor Hobson隸屬于美國阿美特克AMETEK集團應用擴展，是不斷創(chuàng)新的精密計量領域的世界**者，杰出的聲譽源自100多年的計量設計和精密制造工程經(jīng)驗增多。代表著表面粗糙度及形狀計量學領域的高精度等級的計量水平活動上，并為眾多應用領域提供接觸和非接觸測量解決方案。英國泰勒擁有大量以發(fā)明**為代表的知識產(chǎn)權進一步推進，同時仍保有大規(guī)模的研發(fā)團隊和高額資金投入導向作用。并且不斷將科研成果應用于新產(chǎn)品的開發(fā)和改進，使其更加完善地服務于用戶創新為先。