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泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

  • 更新時間:2024-06-05
  • 瀏覽次數(shù):4547

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀
CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀增持能力,具有測量薄膜和厚膜的功能穩定。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,來查找由我們的精密光學掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位進一步。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術(shù)需求。

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森價格區(qū)間面議
產(chǎn)品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類別進口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀


一;HD適合用于制造和研究領(lǐng)域深刻變革,可測量厚度至1.5微米的厚膜及厚度至50納米的薄膜涂層結論。

CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能質生產力。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法技術,來查找由我們的精密光學掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術(shù)推動。CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能相對較高,還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料信息;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA相關。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。現(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層豐富內涵。 采用這種新型方法生產效率,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度適應性、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性保持穩定。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.2048 x 2048像素陣列,視場廣面向,高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.適用于0.3% - 100%的表面反射率
4.<0.2?strom RMS重復(fù)性支撐作用,<0.1%臺階高度重復(fù)性
5.多語言版本的64位控制和分析軟件
6.2.2 mm垂直范圍,帶閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀
7.AutoStitch作為標準配置建設項目,可高分辨率測量大型零件

二:CCI MP-HS非常適合用于研究領(lǐng)域最為突出,從非常粗糙的表面到非常光滑的表面,任何類型的表面它都能測量相結合,因而具備測量各種元件的能力高效化。

無論測量的是何種元件,無論對分析速度的要求有多高為產業發展,我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果範圍和領域。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面各項要求,還是測量非常光滑的表面更高要求,都能獲得令人不可思議的詳細分析。CCI MP-HS大大地擴展了分析能力新技術,同時又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜共同學習。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進行復(fù)雜的測量模式切換,也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔效高。 通過標準化的方法前沿技術、程序和報告,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中系統穩定性。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列拓展基地,視場廣,高分辨率
2.高級X實力增強、Y體系流動性、Z拼接,擴展量程
3.RMS重復(fù)精度<0.2 埃重要工具,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.整合抗振積極拓展新的領域,優(yōu)化抗噪性能
5.多語言版本的Windows,64位軟件

三:CCI MP 是一種多功能的非接觸式 3D 輪廓儀更優質,可測量拋光表面相對開放、粗糙表面、曲面脫穎而出、平面或臺階面拓展應用。

CCI MP是一種高級的測量干涉儀(非接觸式3D輪廓儀)。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法結構,來查找由我們的精密光學掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位管理。CCI MP對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用。 轉(zhuǎn)臺上可以同步裝配各種各樣的標的物能力建設,因而可測量多種類型的表面模樣。 自動的工作臺和自動測量程序進一步增強了測量的靈活性。CCI MP非接觸式3D輪廓儀的一個關(guān)鍵優(yōu)勢就是功能多服務、用途廣很重要。 反射率為0.3%至100%的拋光表面、粗糙表面覆蓋、曲面異常狀況、平面或臺階面,都能使用一種算法進行測量高效,不需要為不同的表面改變模式應用創新,也不用擔心會選擇錯誤的模式。 可測量的材料類型包括: 玻璃機構、液體墨水的特性、光刻膠、金屬攜手共進、聚合物和糊劑共同。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列,視場廣高質量,高分辨率
2.經(jīng)過改良的新型X充分發揮、Y、Z拼接管理,量程多達100毫米
3.RMS重復(fù)精度<0.2埃設計,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.全量程埃級分辨率
5.多語言版本的Windows 7,64位軟件



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