CMI 233是一臺(tái)的無(wú)損電鍍測(cè)厚儀新產品。它旨在測(cè)量導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層和/或磁性基材上的非磁性涂層多種。CMI 233是一款專(zhuān)門(mén)用于商店環(huán)境的手持式電鍍測(cè)厚儀搶抓機遇。所有的電纜連接都被覆蓋，以防止異物進(jìn)入設(shè)備穩步前行。手提箱提供設(shè)備上任何開(kāi)口的額外覆蓋范圍結構不合理。
電源連接：
CMI 233使用9伏電池或連接到115伏，50/60赫茲逐步改善，單相交流電源的低壓電源供電。如果電池是量具的電源提升，當(dāng)電池電壓低于操作所需的電平時(shí)大大提高，將出現(xiàn)電池電量不足的情況。本機(jī)將在顯示屏右下方顯示“BAT”研究成果。在本機(jī)正常工作之前取得了一定進展，應(yīng)該用堿性電池更換電池。
開(kāi)箱設(shè)置：
仔細(xì)打開(kāi)并檢查運(yùn)輸箱大面積，并刪除所有項(xiàng)目積極參與。如果損壞設(shè)備，請(qǐng)立即通知牛津儀器和/或承運(yùn)人培養。
電纜連接
設(shè)備頂部有三個(gè)連接器交流研討。與233的每個(gè)電纜連接都是的，以防止錯(cuò)誤的連接形式。有一個(gè)用于連接打印或串行轉(zhuǎn)儲(chǔ)電纜的型插孔建設應用，一個(gè)用于連接低壓電源的插孔和一個(gè)用于探針的極化6針螺紋連接器。連接任何其他外部設(shè)備可能會(huì)損壞儀表日漸深入。
電源開(kāi)/關(guān)
可以通過(guò)按ON / OFF鍵隨時(shí)打開(kāi)本機(jī)動力。開(kāi)/關(guān)鍵關(guān)閉設(shè)備，或者十分鐘后自動(dòng)關(guān)閉可靠保障，沒(méi)有進(jìn)入或測(cè)量自然條件。當(dāng)本機(jī)打開(kāi)時(shí)，軟件版本將顯示在顯示屏的左上角開展，型號(hào)將在主顯示屏中閃爍互動互補。此后，顯示屏將顯示主顯示屏上顯示的上次讀數(shù)和顯示屏左上角的存儲(chǔ)位置發展成就。

探頭說(shuō)明：
CMI 233使用ECP成就，SMP-1和SMP-2探針。它利用渦流（與ECP）或磁感應(yīng)技術(shù)（與SMP-1和SMP-2）進(jìn)行涂層測(cè)量開展面對面。有關(guān)這些技術(shù)理論的更多信息系統，請(qǐng)參閱附錄B.單位按ZERO / UNITS鍵可將測(cè)量單位從密耳（1/1000英寸）更改為微米（微米）。統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和讀數(shù)都將被改變以反映所選的單位進一步提升。

開(kāi)始測(cè)量：
在進(jìn)行測(cè)量之前空間廣闊，量具必須進(jìn)行校準(zhǔn)營造一處。測(cè)量可以在連續(xù)模式下進(jìn)行（激活設(shè)置，請(qǐng)參閱如何進(jìn)行測(cè)量 - 連續(xù)模式）知識和技能，常規(guī)模式或掃描模式取得顯著成效。按C / M鍵改變測(cè)量模式。

        1實現、連續(xù)模式

將探頭放置在樣品上時(shí)不容忽視，會(huì)顯示瞬時(shí)讀數(shù)。除非Capture功能被激活服務體系，否則這些讀數(shù)不能保存到統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)中說服力。有關(guān)激活此功能的指導(dǎo)，請(qǐng)參閱如何進(jìn)行測(cè)量 - 連續(xù)模式部分分析。當(dāng)探頭置于空氣中時(shí)表示，顯示屏上將顯示“InF”，直到探頭置于樣品上非常激烈。

        2競爭力所在、常規(guī)模式

當(dāng)探頭與樣品接觸時(shí)，將讀取一個(gè)讀數(shù)領域，顯示并保存到統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)中溝通機製。當(dāng)探頭置于空氣中時(shí)，zui后讀取的數(shù)據(jù)將保留在顯示屏上帶來全新智能，直到讀取另一個(gè)讀數(shù)方式之一。
        3、掃描模式
CMI 233可以配置可選的掃描模式軟件新型儲能。具有此特征的單元允許將探針移動(dòng)到樣品表面周?chē)垣@得涂層的平均厚度創新能力。測(cè)量大型零件，涂層厚度變化的樣品範圍，噴砂部件和紋理表面時(shí)求得平衡，此功能非常有用。探頭必須保持與樣品接觸空間廣闊，同時(shí)在其表面上滑動(dòng)的掃描時(shí)間至關重要。不斷地以每秒大約2個(gè)讀數(shù)的速度讀取讀數(shù)。掃描時(shí)間結(jié)束后服務品質，會(huì)發(fā)出三聲嘟嘟聲的發生，主顯示屏上將顯示“dOnE”字樣。讀數(shù)的平均值影響，低值或高值可顯示新的動力，并作為一個(gè)測(cè)量值插入到統(tǒng)計(jì)中。掃描時(shí)間可以設(shè)置從1到60秒發展契機V泛關註？梢赃x擇打印或顯示統(tǒng)計(jì)的模式促進進步。請(qǐng)參閱如何進(jìn)行測(cè)量 - 掃描模式顯示和顯示屏左上方的存儲(chǔ)位置。