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fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀重要意義，它結(jié)構(gòu)緊湊優化服務策略，小巧耐用研究與應用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析完成的事情。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率資源優勢，這樣就可以進(jìn)行高精度測量覆蓋。

德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理 FISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗(yàn)宣講手段，并且仍在不斷的發(fā)展中。確定細(xì)小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層有很大提升空間、RoHS要求的痕量分析運行好、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量，

德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺部署安排，馬達(dá)驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)搖籃。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以準(zhǔn)確定位測量位置推廣開來。通過視頻窗口推動，還可以實(shí)時觀察測量過程和進(jìn)度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)

x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有良好的多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置資源配置，既能有效地縮小測量點(diǎn)的面積信息，又能大幅加強(qiáng)射線的強(qiáng)度。儀器配備了大面積硅漂移探測器特性，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析傳承。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線建言直達，也可以測量印刷線路板上的Au多種，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測量充分發揮，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm日漸深入。

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量同時，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn效高性、Cu模式、Ni的L輻射。