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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀

  • 更新時間:2020-12-28
  • 瀏覽次數(shù):1897

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱信息化技術。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量發揮作用,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn逐步顯現、Cu勇探新路、Ni的L輻射。

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品牌Helmut Fischer/德國菲希爾行業(yè)專用類型有色金屬
價格區(qū)間面議儀器種類臺式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱傳遞。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量試驗,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn開展攻關合作、Cu製度保障、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率的有效手段,使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測量下限統籌推進。XUV非常適合測量很薄的鍍層和痕量分析。

        采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合關鍵技術,能夠保證每一次的測量都在*佳的條件下完成了解情況。在測量的同時,可以直觀地查看測量點(diǎn)的影像技術研究。儀器測量空間寬大重要的,樣品放置便捷,配合可編程的XYZ軸工作臺姿勢,既適合測量平面相互融合、大型板材類樣品,也適合形狀復(fù)雜的樣品綠色化。并且使得連續(xù)測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單不同需求。儀器配有一個激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置,進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計以及真空測量箱所帶來的擴(kuò)展的測量能力保持穩定,使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā)總之,也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。

 

主要特征:

    • 帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管支撐作用,可選鎢管和鉬管同時。*高工作條件:50 kV, 50W
    • X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
    • 準(zhǔn)直器:4個,可自動切換生產效率,從直徑0.1mm到3mm
    • 基本濾片:6個產能提升,可自動切換
    • 可編程XYZ工作臺
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置適應性。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)通過活化,顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小落地生根。
    • 可在真空,空氣或者氦氣的環(huán)境下工作


典型應(yīng)用領(lǐng)域:

    • 測量輕元素
    • 測量超薄鍍層和痕量分析
    • 常規(guī)金屬分析鑒定
    • 非破壞式寶石分析
    • 太陽能光伏產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用實(shí)例:

種類健康發展、來源和真實(shí)性有效保障,是評估寶石價值的本質(zhì)特征;而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素長效機製。通常講實踐,寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物,還會伴隨有鎂和鈉等元素奮戰不懈。另外市場開拓, Cr、Fe大大縮短、Ga等微量元素也是很重要的要落實好。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。在多個領(lǐng)域的應(yīng)用中更默契了,非常薄的Al鍍層先進技術、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要不合理波動。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測量結(jié)果有顯著的提高宣講手段。使用XUV來測量這些鍍層,重復(fù)精度僅幾個納米

 

通用規(guī)格
設(shè)計用途能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)用于確定薄涂層積極拓展新的領域,小結(jié)構(gòu)配套設備,痕跡和合金。
元素范圍鈉(11)到鈾U(92)–同時*多24種元素
設(shè)計理念臺式單元多種方式,帶電動開口圓柱形真空室;外部真空泵;可編程電動X / Y / Z樣品臺;高分辨率彩色攝像機(jī)對外開放,放大范圍廣
測量方向向下
X射線源
X射線管帶銠靶的微焦點(diǎn)X射線管(可選用鎢技術創新,鉬或其他靶材)
高壓8 kV … 50 kV
孔徑(準(zhǔn)直器)4倍可更改:Ø0.1毫米; Ø0.6毫米 Ø1毫米深入交流研討; Ø3 mm(其他按需提供)
X射線探測
X射線接收器硅漂移探測器
電氣參數(shù)
電源要求AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率max. 120 W (XUV 773 without evaluation PC and vacuum pump) 
保護(hù)等級:IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸寬×深×高[mm]:640 x 640 x 760 mm 
內(nèi)部測量室尺寸寬×深×高[mm]:400 x 390 
重量ca. 120 kg 
環(huán)境要求
使用時溫度10° C – 40°C / 50°F – 104°F 
存儲或運(yùn)輸時溫度0° C – 50°C / 32°F – 122°F 
空氣相對濕度≤ 95 %,無結(jié)露
工作臺
設(shè)計電動和快速可編程X / Y / Z樣品臺
行程X-/ Y-/ Z-axis [mm]:100 x 100 x 100 
重復(fù)性X / Y / Z≤ 0,01 mm (uni-directional) 
可用樣品放置區(qū)Width x depth [mm]: 135 x 135 
樣品*大重量≤ 1 kg 
樣品*大高度100 mm 

廣泛應用。

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