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微電阻法
它如何進(jìn)行測量的深入實施？有哪些重要的因素新的動力？
微電阻法適用于測量絕緣基板上導(dǎo)電鍍層的厚度，符合標(biāo)準(zhǔn)ISO 14571協調機製。它經(jīng)常用于檢測印刷電路板和多層PCB上的銅鍍層厚度。微電阻率法的優(yōu)點(diǎn)是電路板的其他層對測量不產(chǎn)生影響在此基礎上，因此它可以精確地測量最上層的厚度規模最大。
物理原理
微電阻法的探針有排成一排的4個(gè)探針。當(dāng)把探針放置在被側(cè)面上時(shí)便利性，電流在兩個(gè)最外層探針之間流動(dòng)全面展示。而位于內(nèi)側(cè)兩個(gè)探針之間的鍍層作為電阻，可以測出其電勢差深刻認識。該電阻值——或者說是該電勢差——與鍍層厚度成反比核心技術。
測量過程中需要注意的事項(xiàng)
所有的電磁測量法都是通過比較的方法。也就是將測量信號(hào)與存儲(chǔ)在設(shè)備中的特征曲線進(jìn)行比較主動性。為了得到正確的結(jié)果創造性，特征曲線必須與當(dāng)前條件相匹配，可通過校準(zhǔn)來實(shí)現(xiàn)道路。
正確的校準(zhǔn)才是關(guān)鍵規模設備！
影響測量結(jié)果的重要因素包括：鍍層的電阻率、樣品的形狀以及表面的粗糙度指導。此外技術創新，操作人也會(huì)影響測量結(jié)果。
電阻率的影響
除了鍍層的厚度有序推進，銅的電阻率也會(huì)影響探針之間的電勢差設施。電阻的變化取決于的合金材料的不同以及其加工方式，溫度也會(huì)引起其電阻的變化堅定不移。這可能需要進(jìn)行溫度補(bǔ)償組合運用，或在相同的測量環(huán)境條件下進(jìn)行校準(zhǔn)。
樣品形狀的影響
在非常小的樣品中迎難而上，電場的分布與大面積樣品中的分布不同積極，這種偏差導(dǎo)致了涂層厚度測量的系統(tǒng)誤差。因此堅持先行，對于小樣品而言產業，需要特殊規(guī)格的探頭，或者探針距樣品的邊緣有最小距離的要求情況較常見。
操作人員的影響
最后重要一點(diǎn)可持續，儀器的操作方式也是一個(gè)主要的影響因素。確保探頭始終垂直接觸被測面，且不受外力構建。為了獲得更準(zhǔn)確的測量值創新科技，還可以借助測量臺(tái)來使探頭自動(dòng)接觸樣品。
