菲希爾xdlm-237測厚儀

• 更新時間：2022-07-18
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菲希爾xdlm-237測厚儀
XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度還不大。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起高產，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。

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菲希爾xdlm-237測厚儀

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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合示範。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量應用前景。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管有很大提升空間，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用首次。此外可能性更大，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造良好的激勵條件。

電鍍液成分分析：Cu, Ni, Au (g/l)

菲希爾xdlm-237測厚儀主要特征：

     搖籃。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管技術。
     。*高工作條件:50KV,50W
     推動。X射線探測器采用比例接收器
     相對較高。準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
     開展研究。基本濾片:固定或3個自動切換
     相互融合。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
     首要任務。固定樣品支撐臺，手動XY工作臺
     更加完善。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置形式。
     ≈巫饔?？潭染€經(jīng)過校準日漸深入，顯示實際測量點大小。
     同時。設計獲得許可互動式宣講， 防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應用領域：

     模式。大批量電鍍件測量
     自動化。防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
     高品質。電鍍行業(yè)樓液分析
     不折不扣。線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
     資源優勢。測量接插件和觸點的鍍層
     高效利用。電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
     。黃金估算，珠寶和手表行業(yè)

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

應用實例：

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度講理論。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器不要畏懼。例如測量橢圓形樣品時市場開拓，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度措施。