菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd

• 更新時間：2021-02-23
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菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器空白區，這樣在使用大準直器的情況下應用擴展，可以達到很高的計數(shù)率利用好，從而實現(xiàn)良好的重復精度和很低的檢測下限新趨勢。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量質生產力。

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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器積極，這樣在使用大準直器的情況下探索，可以達到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復精度和很低的檢測下限產業。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量滿意度。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時可測元素的范圍也擴大到更低原子序數(shù)的元素可持續，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁主要抓手。為了使每次測量都能在*佳激勵條件下進行，XDV-SDD配備了可切換的準直器和基本濾片。

        XDV-SDD測量空間寬大創新科技，樣品放置便捷服務延伸，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復雜的大樣品具有重要意義。連續(xù)測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺完成進一步。操作很人性化，測量門開啟方便強大的功能，儀器前部控制面板具備多種功能實際需求，日常使用輕松便捷。測量位置的準確設定可以很方便地通過高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成的特性，攝像頭可以在操作時準確顯示測量位置交流。激光點作為輔助定位裝置進一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設計使得XDV-SDD是研發(fā)提供堅實支撐、過程控制和實驗室的理想選擇還不大。同時基于其健壯設計和用戶友好，它也是*和生產(chǎn)監(jiān)控*不可少的設備信息化技術。

特征：

• ?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管力度。
• ?*高工作條件： 50 kV, 50W
• ?X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
• ?準直器：4個，可自動切換系統性，從直徑0.1mm到3mm
• ?基本濾片：6個勇探新路，可自動切換
• ?帶彈出功能的可編程XY平臺
• ?視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準的刻度標設計獲得許可傳遞，防護全面試驗，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應用領域：

• 測量超薄鍍層，例如電子和半導體行業(yè)
• 痕量分析開展攻關合作，例如按照RoHS製度保障，玩具和包材指
• 令檢測有害物質(zhì)
• 高精度黃金和貴金屬分析
• 光伏行業(yè)
• 測量NiP層的厚度和成分

應用實例 :

法律條例嚴格限制多種有害物質(zhì)的含量，例如電子元件的有效手段，玩具或包裝材料統籌推進。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如關鍵技術，測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學元素Pb了解情況、Hg和Cd等。

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