DUALSCOPE® MP0R雙制式測(cè)厚儀使用步驟

• 更新時(shí)間：2025-03-24
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DUALSCOPE® MP0R雙制式測(cè)厚儀使用步驟
DUALSCOPE® MP0R是一款同時(shí)具備電渦流感應(yīng)和電磁場(chǎng)感應(yīng)的雙制式涂鍍層測(cè)厚儀有效性，功能強(qiáng)大而操作非常簡(jiǎn)便。使用時(shí)的一個(gè)原則是多看顯示屏上的提示機遇與挑戰，根據(jù)它的提示一步一步的去做廣泛關註，這往往事半功倍；其二共創輝煌，許多功能都是由MENU（菜單）來(lái)開(kāi)啟具有重要意義，隨后皆有提示，可按部就班的進(jìn)行大部分。

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DUALSCOPE® MP0R雙制式測(cè)厚儀使用步驟

DUALSCOPE® MP0R是一款同時(shí)具備電渦流感應(yīng)和電磁場(chǎng)感應(yīng)的雙制式涂鍍層測(cè)厚儀強大的功能，功能強(qiáng)大而操作非常簡(jiǎn)便。使用時(shí)的一個(gè)原則是多看顯示屏上的提示解決方案，根據(jù)它的提示一步一步的去做優勢，這往往事半功倍；其二幅度，許多功能都是由MENU(菜單)來(lái)開(kāi)啟結構，隨后皆有提示，可按部就班的進(jìn)行貢獻。

1．開(kāi)機(jī)/關(guān)機(jī)
處于關(guān)閉狀態(tài)的儀器放在工件上將自動(dòng)開(kāi)機(jī)規模最大，當(dāng)屏幕上顯示四段水平短線時(shí)，儀器處于待機(jī)狀態(tài)即可測(cè)量工件了統籌；經(jīng)過(guò)一段時(shí)間（可設(shè)定）不使用最深厚的底氣，儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。

2．測(cè)量
儀器會(huì)自動(dòng)選擇測(cè)量方法：使用電渦流感應(yīng)方法時(shí)屏幕上將顯示NFe振奮起來，使用電磁場(chǎng)感應(yīng)方法時(shí)屏幕上將顯示Fe品質。測(cè)量時(shí)請(qǐng)始終保持儀器處于垂直狀態(tài)！
當(dāng)屏幕上的功能鍵位于RES處時(shí)深入各系統，按OK鍵將依次顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值解決問題、標(biāo)準(zhǔn)誤差、測(cè)量次數(shù)作用、zui小值和zui大值相互配合。按ESC鍵可退回測(cè)量狀態(tài)慢體驗。
如果事先設(shè)定了Block length (數(shù)據(jù)組長(zhǎng)度)，例如5智能化，則儀器測(cè)完第5個(gè)數(shù)據(jù)時(shí)將自動(dòng)顯示平均值科技實力。

3.零位校正
通過(guò) ?、  ?鍵切換到菜單0位置→按OK鍵建設，屏幕上顯示Base→在Fe片或Al片上測(cè)量幾次→按OK鍵在此基礎上，零位校正完成，儀器返回RES測(cè)量狀態(tài)姿勢。    

4． 校準(zhǔn)
通過(guò)?相互融合、  ?鍵切換到菜單CAL位置→按OK鍵，屏幕上顯示Base →在Fe片或Al片上測(cè)量幾次→按OK鍵適應性強，屏幕上顯示STD1→ 將標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上測(cè)量幾次
按?鍵或?鍵將測(cè)量值調(diào)整為標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值 →按OK鍵技術交流，校準(zhǔn)完成，儀器返回RES測(cè)量狀態(tài)拓展。
小竅門(mén)：一直按住?或者?鍵，可快速調(diào)整數(shù)值  

5． 設(shè)定/刪除上下限和偏差補(bǔ)償值
通過(guò) ?宣講活動、?鍵切換到菜單TOL位置→按OK鍵不斷進步，屏幕上顯示MIN，按?效率、?鍵輸入 → zui小值→按OK鍵規模，屏幕上顯示MAX，按?講道理、?鍵輸入zui大值→按OK鍵發展目標奮鬥，屏幕上顯示OFFS，按?更多的合作機會、?鍵輸入偏差補(bǔ)償值→ 按OK鍵延伸，完成設(shè)定，儀器返回RES測(cè)量狀態(tài)服務好。
如果要跳過(guò)某一項(xiàng)新趨勢，比如不需設(shè)定OFFS，直接按OK鍵即可跳過(guò)共謀發展。 將zui小值設(shè)為0即可刪除上下限學習。
    設(shè)定上下限后，如果測(cè)量數(shù)據(jù)小于zui小值聽得懂，儀器將響兩聲且屏幕上顯示MIN及→ 符合應用優勢；如果測(cè)量數(shù)據(jù)大于zui大值，儀器也將響兩聲且屏幕上顯示MAX及→符號(hào)全方位。  
  小竅門(mén)：一直按住 ?高效節能、?鍵影響力範圍，可快速調(diào)整數(shù)值；輸入上下*也可先測(cè)一下樣品再調(diào)整核心技術，因測(cè)得數(shù)據(jù)一般不會(huì)偏離上下限很遠(yuǎn)應用提升，這樣就可以比較快地完成設(shè)定。    相關(guān)知識(shí)：如果測(cè)量數(shù)據(jù)總是偏大或偏小某一數(shù)值效高，請(qǐng)檢查OFFS是否為0前沿技術，如不是，將它設(shè)為0性能；如果底材和測(cè)量層之間有一已知厚度的中間層多種方式，則可將其設(shè)為OFFS值（負(fù)數(shù)），這樣測(cè)得的數(shù)據(jù)即是zui上層的厚度技術創新。  

6． 打印數(shù)據(jù)
PRT為打印鍵深入交流研討，有接收器時(shí)才可以使用。  

7．刪除數(shù)據(jù)
  測(cè)量過(guò)程中廣泛應用，如發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)偏離正常值的數(shù)據(jù)（可能由錯(cuò)誤操作引起）關註度，可切換到DEL菜單位置，按下OK鍵哪些領域，zui后一個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)將被刪除敢於挑戰；若在查看統(tǒng)計(jì)值時(shí)執(zhí)行該操作，則將刪除全部測(cè)量數(shù)據(jù)建立和完善。  

8. 重要參數(shù)的設(shè)定
  通過(guò)?提供了遵循、?鍵切換到(菜單)Menu位置→按OK鍵，屏幕上顯示157?按兩次→鍵將157改為159 按OK鍵大型，屏幕上顯示FrEE →按?或? 鍵服務效率，選擇子目錄（只有1，2重要意義，3統籌發展，4和10才是有效的