Magna-Mike 8600測(cè)厚儀度的其他因素

要考慮的其他因素：
校準(zhǔn)：霍爾效應(yīng)儀器必須在使用前進(jìn)行校準(zhǔn)保障性，使用與測(cè)量相同的探頭和靶標(biāo)。這是通過(guò)無(wú)目標(biāo)的讀數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)的責任製，目標(biāo)接觸探針（零厚度）十分落實，并在兩個(gè)或更多個(gè)參考厚度倍增效應。這允許儀器產(chǎn)生一個(gè)校準(zhǔn)表，其中繪制電壓變化與厚度的關(guān)系製造業。校準(zhǔn)將每個(gè)使用的目標(biāo)與本機(jī)的內(nèi)存查找表進(jìn)行匹配優化服務策略。校準(zhǔn)還可以測(cè)量目標(biāo)可能位置的兩個(gè)極值（“球開”和“球關(guān)”），并將這些端點(diǎn)分配給查找表新格局。已知厚度的附加校準(zhǔn)點(diǎn)用于微調(diào)表格以獲得*精度明顯。在操作過(guò)程中，每當(dāng)探頭方向或環(huán)境溫度變化時(shí)顯示，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)充分。

MagnaMike 8600圖示目標(biāo)球的自由運(yùn)動(dòng)：由于霍爾效應(yīng)測(cè)量?jī)x測(cè)量探頭和目標(biāo)之間的距離，球的幾何阻塞將導(dǎo)致不準(zhǔn)確的測(cè)量集聚。類似地競爭力，探針必須與部件緊密接觸。當(dāng)表面幾何形狀限制接觸面積時(shí)狀況，應(yīng)使用鑿點(diǎn)磨損帽機製性梗阻。

附近的磁性物體和磁場(chǎng)：探頭不應(yīng)用于鐵質(zhì)材料，如碳鋼長(zhǎng)凳全過程，貨架集成應用，支架，支架不負眾望，手表或首飾高效流通，或靠近電動(dòng)機(jī)或類似的電磁干擾源。它應(yīng)該保持至少8英寸（200毫米）從電腦精準調控。所有這些都會(huì)影響探頭的磁場(chǎng)功能，導(dǎo)致不準(zhǔn)確的測(cè)量。當(dāng)測(cè)量每個(gè)目標(biāo)類型的zui大厚度附近時(shí)解決，這一點(diǎn)尤為重要預期。

探測(cè)方向：由于Magna-Mike 8600通過(guò)監(jiān)測(cè)磁場(chǎng)的小變化來(lái)測(cè)量厚度，其校準(zhǔn)過(guò)程包括對(duì)地球磁場(chǎng)的影響的自動(dòng)補(bǔ)償幅度。zui常見的是結構，探針以一個(gè)恒定的方向被保持在一個(gè)立場(chǎng)上。然而貢獻，在探針以不同的方向（例如水平保持）使用的情況下規模最大，或者當(dāng)在掃描彎曲部分的外部方向改變時(shí)，必須更新校準(zhǔn)防控。在Magna-Mike 8600中成效與經驗，Q-Cal功能用于進(jìn)行此更正。當(dāng)測(cè)量每個(gè)目標(biāo)類型的zui大厚度附近時(shí)，這一點(diǎn)尤為重要稍有不慎。只需移除目標(biāo)物并按住Q-Cal鍵重要作用，同時(shí)將探頭保持在所需的方向。

粗糙或垂直的測(cè)試表面：當(dāng)探頭被掃描時(shí)最為顯著，表面粗糙度或凹槽可導(dǎo)致目標(biāo)球暫時(shí)掛起尤為突出，從而增加表觀厚度。當(dāng)使用探頭測(cè)量水平方向的垂直表面時(shí)自行開發，重力會(huì)導(dǎo)致目標(biāo)球從探頭的中心線掉落進行部署。在這些情況下，MIN Capture模式應(yīng)用于確保真實(shí)zui小厚度的測(cè)量應用情況。

導(dǎo)線目標(biāo)：使用導(dǎo)線目標(biāo)時(shí)保護好，探針必須至少距離導(dǎo)線末端1英寸（25毫米）。在測(cè)量點(diǎn)表現，必須將電線牢固地按壓在測(cè)試片上特點，因?yàn)榕c任何其他目標(biāo)一樣，麥格納 - 邁克實(shí)際上正在測(cè)量與目標(biāo)的距離結論，而不是直徑的壁厚和諧共生。必須保持探針和導(dǎo)線之間的角度對(duì)準(zhǔn)（通常是垂直的），因?yàn)閷?dǎo)線傾斜會(huì)影響讀數(shù)適應性強。電線目標(biāo)不應(yīng)扭曲或彎曲技術交流。

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