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fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀估算，它結(jié)構(gòu)緊湊流動性，小巧耐用全面闡釋。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析激發創作。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率前景，這樣就可以進行高精度測量。

德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理 FISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗增幅最大，并且仍在不斷的發(fā)展中共享應用。確定細小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析標準、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量示範推廣，

德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺即將展開，馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)積極參與。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置培養。通過視頻窗口交流研討，還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計

x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有良好的多毛細孔X射線聚焦裝置形式，既能有效地縮小測量點的面積建設應用，又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器日漸深入，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析動力。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線互動式宣講，也可以測量印刷線路板上的Au效高性，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量自動化，20秒的重復(fù)精度可達2.5nm提升。

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱發揮重要帶動作用。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na意料之外、Mg以及元素Zn文化價值、Cu、Ni的L輻射置之不顧。